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開關(guān)電源之PCB電路板與元器件進(jìn)行老化測試的主要原因
來源:東莞市成良智能科技 發(fā)布時(shí)間:2020-07-16 點(diǎn)擊量:684
在進(jìn)行開關(guān)電源之smt貼片加工可焊性測試前,需要對(duì)測試pcb原型的樣品進(jìn)行老化處理。因?yàn)?,剛剛生產(chǎn)出來的元器件或開關(guān)電源之PCB電路板,其焊接面的可焊性一般是不存在問題的,但是存放一段時(shí)間后,就會(huì)因?yàn)檠趸霈F(xiàn)劣化。測試必須考慮正常儲(chǔ)存條件對(duì)可焊性的影響。
開關(guān)電源之元器件和PCB往往要求有一定的儲(chǔ)存保質(zhì)期,通常為6-12個(gè)月。因此,要等待這段周期后再進(jìn)行測量顯然不切實(shí)際,因而必須采用加速存放老化的方法。
對(duì)錫合金而言氧化是主要原因,而對(duì)貴金屬鍍層而言則擴(kuò)散是主要原因。電子制造業(yè)界通行的做法是,對(duì)錫合金采用8~24h的蒸汽老化;對(duì)主要由擴(kuò)散而引起品質(zhì)下降的鍍層,采用115℃、16h干熱老化;對(duì)品質(zhì)下降機(jī)理不明的鍍層,則采用蒸汽老化。
經(jīng)過對(duì)不同因素影響所導(dǎo)致的焊接質(zhì)量下降采取一定的老化措施,不僅能夠保證SMT加工的順利進(jìn)行,也能夠保證開關(guān)電源之PCBA加工的直通率,以達(dá)到提高貼片加工的生產(chǎn)效率和良品率。
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