在電路的邏輯設(shè)計(jì)完成后，通常是以手工的方式來加入可測(cè)試性（Testability）設(shè)計(jì)。激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭要求更短的設(shè)計(jì)開發(fā)周期，這樣的可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法已成為嚴(yán)重的設(shè)計(jì)瓶頸。隨著設(shè)計(jì)進(jìn)入了以綜合為基礎(chǔ)的階段，將測(cè)試與綜合結(jié)合起來，以自動(dòng)化的方式來實(shí)現(xiàn)可測(cè)試性設(shè)計(jì)已成為必須的趨勢(shì)。

開關(guān)電源之PCB可測(cè)試性的關(guān)鍵技術(shù)
開關(guān)電源之PCB可測(cè)試性的關(guān)鍵技術(shù)包括：可測(cè)試性的度量、可測(cè)試性機(jī)制的設(shè)計(jì)與優(yōu)化和測(cè)試信息的處理與故障診斷。
提高印制板的可測(cè)試性，首先就要對(duì)開關(guān)電源之PCB的可測(cè)試性水平進(jìn)行度量，一般包括精確性和簡單性兩個(gè)方面。精確性是指可測(cè)試性的度量方法能準(zhǔn)確地預(yù)計(jì)產(chǎn)品測(cè)試程序生成的困難，并且定位到產(chǎn)品某一部位，從而便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)進(jìn)行可測(cè)試性更改。簡單性是指度量可測(cè)試性的計(jì)算量應(yīng)小于測(cè)試程序生成的計(jì)算量。

開關(guān)電源之PCB的可測(cè)試性設(shè)計(jì)過程實(shí)際上就是將某種能夠方便測(cè)試進(jìn)行的可測(cè)試性機(jī)制引入到PCB中，提供獲取被測(cè)對(duì)象內(nèi)部測(cè)試信息的信息通道。因此，合理有效的設(shè)計(jì)可測(cè)試性機(jī)制是成功地提高開關(guān)電源之PCB可測(cè)試性水平的保障?？蓽y(cè)試性機(jī)制的引入一方面會(huì)提高系統(tǒng)的可測(cè)試性水平，從而降低產(chǎn)品的全壽命周期費(fèi)用，但另一方面也在一定程度上提高了產(chǎn)品的初始成本。

進(jìn)行可測(cè)試性機(jī)制設(shè)計(jì)優(yōu)化就是要綜合權(quán)衡各種可測(cè)試性機(jī)制的性能和費(fèi)用，采用性能費(fèi)用比最佳的設(shè)計(jì)機(jī)制。提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，降低產(chǎn)品全壽命周期費(fèi)用，要求可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)能夠方便快捷地獲取測(cè)試時(shí)的反饋信息，能夠很容易地根據(jù)反饋信息做出故障診斷。